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集成电路可靠性设计与评价
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集成电路可靠性设计与评价
作者:
主编 尤政 副主编 缪向水 雷鑑铭
定价:
0.00元
ISBN:
978-7-04-065368-7
版面字数:
0.00千字
开本:
16开
全书页数:
暂无
装帧形式:
精装
重点项目:
暂无
出版时间:
暂无
物料号:
65368-00
读者对象:
高等教育
一级分类:
电气/电子信息/自动化类
二级分类:
电气/自动化专业课
三级分类:
其他
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