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集成电路开发与测试(中级)
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集成电路开发与测试(中级)
作者:
杭州朗迅科技股份有限公司 组编 居水荣 夏敏磊 主编
定价:
58.00 元
版面字数:
0.00千字
开本:
16开
装帧形式:
平装
版次:
1
最新版次印刷时间:
2024-01-25
ISBN:
978-7-04-055306-2
物料号:
55306-B0
出版时间:
2020-12-28
读者对象:
高等职业教育
一级分类:
电子信息大类
二级分类:
电子信息类
三级分类:
微电子技术
购买:
册数:
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