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集成电路封装与测试


作者:
杭州朗迅科技股份有限公司 组编;主编 卢静等;副主编 冯筱佳等
定价:
49.80元
ISBN:
978-7-04-061382-7
版面字数:
400.000千字
开本:
16开
全书页数:
暂无
装帧形式:
平装
重点项目:
暂无
出版时间:
2024-07-01
读者对象:
高等职业教育
一级分类:
电子信息大类
二级分类:
电子信息类
三级分类:
微电子技术

本书是职业教育“岗课赛证”融通教材,也是集成电路职业标准建设系列教材之一、集成电路1+X职业技能等级证书系列教材之一。

本书主要包括导论、模拟芯片LM1117塑料封装、模拟芯片LM1117测试、数字芯片74LS138金属封装、数字芯片74LS138测试、存储器芯片封装与测试等内容,融入集成电路封装与测试岗位、“集成电路开发及应用”职业院校技能大赛、“集成电路开发与测试”“集成电路封装与测试”1+X职业技能等级证书要求,充分体现“岗课赛证”融通。

教师如需获取本书授课用PPT等配套资源,请登录“高等教育出版社产品信息检索系统”(https://xuanshu.hep.com.cn)免费下载。

本书可作为高等职业本科、专科院校集成电路类、电子信息类专业相应课程的教材,也可作为集成电路相关行业及企业员工的培训教材,还可供工程技术人员参考使用。

  • 前辅文
  • 导论
    • 0.1 产业链分析
    • 0.2 创新链分析
    • 0.3 人才链分析
    • 0.4 教育链分析
    • 0.5 结语
  • 项目一 模拟芯片LM1117塑料封装
    • 任务1.1 LM1117前道封装
    • 任务1.2 LM1117后道封装
    • 拓展与提升
  • 项目二 模拟芯片LM1117测试
    • 任务2.1 LM1117晶圆测试
    • 任务2.2 LM1117成品测试
    • 拓展与提升
  • 项目三 数字芯片74LS138 金属封装
    • 任务3.1 气密性封装
    • 任务3.2 金属封帽
    • 拓展与提升
  • 项目四 数字芯片74LS138 测试
    • 任务4.1 74LS138 晶圆测试
    • 任务4.2 74LS138 成品测试
    • 拓展与提升
  • 项目五 存储器芯片封装与测试
    • 任务5.1 封装类型比选
    • 任务5.2 存储器芯片晶圆测试
    • 任务5.3 存储器芯片成品测试及分选
    • 拓展与提升
  • 参考文献

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