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粉末衍射理论与实践

作者：
R. E. Dinnebier等，陈昊鸿、雷芳 译
定价：
98.00元
ISBN：
978-7-04-044970-9
版面字数：
700.000千字
开本：
16开
全书页数：
暂无
装帧形式：
精装
重点项目：
暂无
出版时间：
2016-09-23
物料号：
44970-00
读者对象：
学术著作
一级分类：
自然科学
二级分类：
材料
三级分类：
材料分析与表征

要介绍一门技术，最合适的老师莫过于那些享有国际声誉的专家，他们或是建立相关理论，或是提供了广泛使用的工具。而这正是本书的最大优势——主编和作者们就是这样的一群专家。他们不仅阐释了技术的概念和诀窍，而且讨论了有关结果合理性的问题。本书在技术的筛选上提倡“重在实用，与时俱进”的原则，在内容的安排上讲究“阶梯”和“引路人”的效果，适合不同层次的、想运用粉末衍射技术来解决实际问题的读者。

  • 前辅文
  • 第1章 粉末衍射原理Robert E.Dinnebier和Simon J.L.Billinge
    • 1.1 引言
    • 1.2 基本原理
    • 1.3 布拉格方程的推导
    • 1.4 基于倒易点阵的布拉格方程
    • 1.5 Ewald图
    • 1.6 关于布拉格方程的导数
    • 1.7 有限晶粒大小的布拉格定律
    • 参考书目
  • 第2章 实验装置Jeremy Karl Cockcroft和Andrew N.Fitch
    • 2.1 引言
    • 2.2 X射线辐射源
      • 2.2.1 实验室X射线源
      • 2.2.2 同步X射线源
    • 2.3 X射线光学元件
      • 2.3.1 滤光片
      • 2.3.2 单色器
      • 2.3.3 反射镜
    • 2.4 X射线探测器
      • 2.4.1 点探测器
      • 2.4.2 线探测器
      • 2.4.3 面探测器
      • 2.4.4 探测器校准
    • 2.5 实验室设备配置
      • 2.5.1 反射几何
      • 2.5.2 透射几何
    • 2.6 同步辐射设备配置
      • 2.6.1 前置于样品的光学元件
      • 2.6.2 基于平行光束的设备
      • 2.6.3 德拜谢乐几何设备
    • 2.7 测试
      • 2.7.1 样品架
      • 2.7.2 标准样品
      • 2.7.3 数据收集
    • 2.8 能量色散X射线粉末衍射
    • 2.9 中子粉末衍射
      • 2.9.1 中子的性质
      • 2.9.2 中子源
      • 2.9.3 中子的探测
      • 2.9.4 单色化技术
      • 2.9.5 飞行时间技术
    • 参考文献
  • 第3章 布拉格衍射强度R.B.Von Dreele和J.Rodriguez Carvaja
    • 3.1引言
    • 3.2 单原子散射理论
      • 3.2.1 X射线散射
      • 3.2.2 中子散射
    • 3.3 晶体点阵的散射
      • 3.3.1 热运动效应
      • 3.3.2 洛伦兹因子
      • 3.3.3 调制晶体点阵的散射
      • 3.3.4 中子磁矩散射
    • 3.4 多晶粉末的散射
      • 3.4.1 Friedel衍射对的重叠
      • 3.4.2 衍射多重性
      • 3.4.3 织构效应
      • 3.4.4 吸收效应
    • 致谢
    • 参考文献
  • 第4章 常规数据还原Rudolf Allmann
    • 4.1 引言
    • 4.2 伪衍射峰(异常值)的消除
    • 4.3 背景的拟合与扣除
    • 4.4 数据平滑
      • 4.4.1 移动多项式平滑 (SavitzkyGolay法)
      • 4.4.2 数字低通滤波
    • 4.5 Kα2剥离
    • 4.6 寻峰算法
      • 4.6.1 爬山寻峰法
      • 4.6.2 二阶导数寻峰法
      • 4.6.3 预定峰形寻峰法
    • 4.7 线形函数与线形拟合
    • 4.8 系统误差的确定与校正
      • 4.8.1 外标
      • 4.8.2 内标
      • 4.8.3 结合点阵常数精修的校正
    • 参考文献
  • 第5章 提取强度的布拉格衍射线形分析Armel Le Bail
    • 5.1 引言
    • 5.2 谱峰线形函数贡献概述
    • 5.3 仪器像差
      • 5.3.1 最大尺寸效应研究成果
      • 5.3.2 射线的蒙特卡罗循踪
    • 5.4 样品宽化
      • 5.4.1 晶粒尺寸
      • 5.4.2 点阵应变
      • 5.4.3 各向异性样品宽化:层错
    • 5.5 单峰拟合与线形分析
      • 5.5.1 面向强度或位置提取的峰形拟合——晶胞信息已知或未知
      • 5.5.2 有关尺寸/畸形信息提取的单峰分析
      • 5.5.3 更高层次地逼近
    • 5.6 无结构的全粉末谱图分解 (WPPD)
      • 5.6.1 无晶胞限制
      • 5.6.2 受限于晶胞的全粉末谱图分解
      • 5.6.3 WPPD的主流应用
    • 5.7结论
    • 参考文献
  • 第6章 X射线粉末衍射中有关线形的仪器因素——基于BraggBrentano几何的衍射仪Alexander Zuev
    • 6.1 引言
    • 6.2 观测线形的影响因素
    • 6.3 方法概述
    • 6.4 基本方程
      • 6.4.1 圆锥的矢量方程
      • 6.4.2 圆锥曲线方程
    • 6.5 BraggBrentano 几何衍射仪
      • 6.5.1 BraggBrentano几何的坐标系
      • 6.5.2 接收狭缝平面上(坐标系CS)的圆锥曲线方程
      • 6.5.3 样品表平面上(坐标系CS)的圆锥曲线方程
      • 6.5.4 退化圆锥 (2θ = 90°)
      • 6.5.5 圆锥曲线与接收狭缝边界的相交
      • 6.5.6 面间角
    • 6.6 应用
      • 6.6.1 接收狭缝平面上的圆锥曲线示例
      • 6.6.2 特定仪器函数
      • 6.6.3 全仪器线形
    • 6.7 关于偏位､Sller狭缝和单色器
      • 6.7.1 偏位
      • 6.7.2 Sller狭缝
      • 6.7.3 单色器
    • 6.8 衍射光路上的平板晶体单色器
      • 6.8.1 单色器设置
      • 6.8.2 反射圆锥
      • 6.8.3 接收狭缝平面上衍射圆锥与反射圆锥的相交
    • 6.9 平板单色器对仪器函数的影响
      • 6.9.1 单色器存在时的水平像差
      • 6.9.2 单色器存在时的轴向像差
      • 6.9.3 单色器存在时的全仪器函数
    • 6.10 结论
    • 致谢
    • 参考文献
  • 第7章 指标化和空间群识别Angela Altomare,Carmelo Giacovazzo和Anna Moliterni
    • 7.1 粉末衍射中的单晶点阵
    • 7.2 粉末谱图指标化
      • 7.2.1 引言
      • 7.2.2 品质因子
      • 7.2.3 几何歧义性
      • 7.2.4 传统指标化软件
      • 7.2.5 指标化软件的新发展
    • 7.3 空间群识别
      • 7.3.1 引言
      • 7.3.2 DASH方法
      • 7.3.3 EXPO2004方法
    • 参考文献
  • 第8章 晶体结构解析Rocco Caliandro,Carmelo Giacovazzo和 Rosanna Rizzi
    • 8.1 引言
    • 8.2 帕特逊函数
    • 8.3 直接法
      • 8.3.1 观测强度的定标和结构因子的归一化
      • 8.3.2 估算结构不变量
      • 8.3.3 正切公式
      • 8.3.4 典型的直接法操作过程
      • 8.3.5 品质因子
      • 8.3.6 晶体结构的完成和初步精修
      • 8.3.7 晶体结构的中子粉末数据解析
    • 8.4 正空间法
      • 8.4.1 网格搜索法
      • 8.4.2 蒙特卡罗法
      • 8.4.3 模拟退火法
      • 8.4.4 遗传算法技术
      • 8.4.5 杂化法
      • 8.4.6 实际结构应用示例
      • 8.4.7 晶体结构预测
    • 8.5 结论与展望
    • 符号与注释
    • 参考文献
  • 第9章 Rietveld精修R.B.Von Dreele
    • 9.1 引言
    • 9.2 Rietveld理论
      • 9.2.1 最小二乘
    • 9.3 约束和限制
      • 9.3.1 简介
      • 9.3.2 刚体精修
      • 9.3.3 Fe[OP(C6H5)3]4Cl2FeCl4的刚体精修
      • 9.3.4 立体化学限制精修
      • 9.3.5 蛋白质粉末精修
    • 致谢
    • 参考文献
  • 第10章 差值导数最小化法Leonid A. Solovyov
    • 10.1 引言
    • 10.2 差值导数最小化原理
    • 10.3 DDM分解操作
    • 10.4 结果与讨论
      • 10.4.1 模拟与实际数据的测试
      • 10.4.2 DDM的应用
    • 10.5 结论
    • 参考文献
  • 第11章 定量物相分析Ian C. Madsen 和Nicola V. Y. Scarlett
    • 11.1 引言
    • 11.2 物相分析
    • 11.3 数学基础
      • 11.3.1 参比强度(RIR)法
      • 11.3.2 Rietveld法
    • 11.4 影响准确性的因素
      • 11.4.1 颗粒统计
      • 11.4.2 择优取向
      • 11.4.3 微吸收
      • 11.4.4 精确度､准确性和误差计算
    • 11.5 粉末衍射的QPA示例
      • 11.5.1 矿物体系中的应用
      • 11.5.2 工业体系中的应用
    • 11.6 结论
    • 致谢
  • 附录A 关于Rietveld定量物相分析中误差的推导
    • A.1 相对物相丰度
    • A.2 绝对物相丰度
    • A.3 无定形成分
    • 参考文献
  • 第12章 微结构性质:织构和宏观应力效应Nicolae C.Popa
    • 12.1 织构
      • 12.1.1 取向分布函数和极分布
      • 12.1.2 织构分析的两个目标
      • 12.1.3 DollaseMarch模型
      • 12.1.4 球谐函数法
    • 12.2 宏观应变和应力
      • 12.2.1 单晶中的弹性应变与应力——数学基础
      • 12.2.2 多晶样品中的应变与应力
      • 12.2.3 应变/应力状态的衍射分析
      • 12.2.4 各向同性样品中的应变/应力——经典近似
      • 12.2.5 各向同性多晶中的静液压
      • 12.2.6 宏观应变或应力的球谐函数分析
    • 参考文献
  • 第13章 微结构性质:点阵缺陷和晶畴尺寸效应Paolo Scardi
    • 13.1 引言
    • 13.2 谱线宽化的起源
      • 13.2.1 尺寸宽化
      • 13.2.2 应变宽化
      • 13.2.3 谱线宽化的其他原因
    • 13.3 传统方法与创新方法的对比
      • 13.3.1 积分宽度法
      • 13.3.2 傅里叶法
      • 13.3.3 线形拟合与传统LPA方法
      • 13.3.4 全粉末谱图建模
    • 13.4 WPPM: 应用示例
      • 13.4.1 严重变形的金属粉末
      • 13.4.2 氧化铈纳米晶粉末
    • 致谢
    • 主要符号列表
  • 附录B 线形成分的傅里叶变换
    • B.1 设备线形(IP)
    • B.2 晶畴尺寸(S)
    • B.3 层错(F)
    • B.4 位错 (D)
    • B.5 反向畴界(APB)
    • B.6 化学计量变动(C)404 参考文献
  • 第14章 使用面探测器的二维衍射Bernd Hinrichsen,Robert E. Dinnebier和Martin Jansen
    • 14.1 二维探测器
      • 14.1.1 CCD探测器
      • 14.1.2 成像板探测器
      • 14.1.3 平板探测器
      • 14.1.4 杂化像素探测器
    • 14.2 衍射几何
      • 14.2.1 二维衍射的分辨率和FWHM
      • 14.2.2 衍射角转换
      • 14.2.3 入射角度和光线传播距离的计算
      • 14.2.4 通用型转换
    • 14.3 强度校正
      • 14.3.1 洛伦兹校正
      • 14.3.2 偏振校正
      • 14.3.3 入射角校正
    • 参考文献
  • 第15章 非常规条件下的粉末衍射Poul Norby和Ulrich Schwarz
    • 15.1 引言
    • 15.2 原位粉末衍射
      • 15.2.1 技术和设施
    • 15.3 高压粉末衍射
      • 15.3.1 引言
      • 15.3.2 金刚砧室
      • 15.3.3 传压媒质
      • 15.3.4 衍射测试
      • 15.3.5 压强测试
      • 15.3.6 热力学探讨
    • 精选综述
    • 参考文献
  • 第16章 基于全散射和原子对分布函数(PDF)的局域结构分析Simon Billinge
    • 16.1 引言
    • 16.2 理论
      • 16.2.1 单组分体系
      • 16.2.2 多组分体系
    • 16.3 实验方法
    • 16.4 结构建模
      • 16.4.1 基于PDF且无关模型的结构信息
      • 16.4.2 PDF的建模
      • 16.4.3 倒易空间中的全散射建模
      • 16.4.4 新兴建模方法
    • 参考文献
  • 第17章 粉末衍射计算机软件Lachlan M.D.Cranswick
    • 17.1 引言
    • 17.2 查找与评测软件
      • 17.2.1 新软件的查找
      • 17.2.2 软件的选用
      • 17.2.3 重获软件网址
    • 17.3 现有软件
      • 17.3.1 第三方衍射仪控制软件
      • 17.3.2 物相鉴定和检索匹配软件
      • 17.3.3 晶体结构数据库
      • 17.3.4 粉末衍射数据格式转换
      • 17.3.5 结构数据的转换与改造
      • 17.3.6 粉末衍射谱图的浏览与处理
      • 17.3.7 寻峰与谱峰线形分析
      • 17.3.8 粉末指标化
      • 17.3.9 空间群识别
      • 17.3.10空间群信息软件和数据库
      • 17.3.11 晶胞参数精修
      • 17.3.12 全谱拟合(Pawley､Le Bail)
      • 17.3.13 织构分析软件
      • 17.3.14 尺寸应变分析
      • 17.3.15 单晶软件包——粉末衍射分析的帮手
      • 17.3.16 粉末衍射软件包
      • 17.3.17 粉末衍射专用结构解析软件
      • 17.3.18 使用单晶软件的结构解析
      • 17.3.19 二维到三维分子模型的建立
      • 17.3.20 单晶精修软件和参与结构建模的辅助软件
      • 17.3.21 Rietveld结构精修
      • 17.3.22 对分布函数软件
      • 17.3.23 使用单晶软件及辅助软件进行加氢
      • 17.3.24 免费的独立粉末和单晶傅里叶电子密度图生成和显示软件
      • 17.3.25 定量物相分析
      • 17.3.26 粉末谱图计算
      • 17.3.27 结构有效性
      • 17.3.28 晶体结构可视化——贯穿结构解析与精修过程
      • 17.3.29 晶体结构的可视化和照片级仿真渲染
      • 17.3.30 辅助资源
  • 附录C本章 所述软件和资源的网址
  • 索引

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