本书是目前国际上最主要的一本从基本原理、仪器、应用等方面对电子能量损失谱进行全面综述的专著。作者Raymond F. Egerton教授是电子显微学杂志Micron的主编，在国际显微学界享有盛誉。全书共分五章：第一章简要介绍了电子能量损失谱学，包括快电子与固体的相互作用、电子能量损失谱实验技术的进展，以及和其他分析技术的比较；第二章介绍了电子能量损失谱的仪器设备的原理和能量分析与能量选择系统；第三章系统地介绍了电子散射理论，重点讨论了非弹性散射的模型和理论、外壳层和内壳层电子激发的原子理论；第四章为能量损失谱的定量分析的原理和方法；第五章通过大量的例子介绍了能量损失谱的应用。附录推广了相对论下的Bethe理论，以给出有关参数化小角度内壳层散射截面的公式，并提供了很多分析所需的计算程序源代码和重要的物理参数，以方便读者使用。
本书可作为从事电子显微学分析和研究的科研人员和高等院校师生的参考用书。
